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能量色散X荧光光谱仪 XRF

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X荧光考古剖析仪

型号:EDX8000L
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产品说明、手艺参数及设置

仪器先容

EDX8000L使用中国历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测的权威部分提供的标准陶瓷片样品为仪器标定基准标样 ,一次性同时剖析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化学成份含量 ,再比照中国古陶瓷数据库便可以抵达断代断源的功效。同时 ,为了更好的使用X荧光剖析仪器的无损丈量特征 ,我公司凭证行业需要制作超大型抽真空样品腔 ,以知足差别巨细、器形的陶瓷样品的检测。

EDX8000L型仪器在测试陶瓷的同时亦可以测试青铜器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、贵金属(Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等)等的化学成份和金属镀层厚度 ,做到一机多用 ,是古文物检测的科学检测仪器。中国历史博物馆、中国收藏家协会等古文物收藏部分都是其用户。

标准设置

超薄窗大面积的原装入口Fast SDD探测器
数字多道系统
可自动切换型准直器和滤光片
光路增强系统
内置高清晰摄像头
增强的金属元素感度剖析器
智能全元素剖析软件 ,与仪器硬件相得益彰 ,且操作简朴。
面光源
放大电路
崎岖压电源
X光管
多变量非线性回归程序
相互自力的基体效应校正模子。
三重清静�;つJ�
外观尺寸: 800×710×1360 mm
样品腔尺寸:590×550×600mm
重量:280kg

应用领域

古陶瓷
古青铜器
古首饰
镀层测厚

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