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能量色散X荧光光谱仪 XRF

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超大行程X荧光膜厚测试仪

型号:EDX-PCB
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产品说明、手艺参数及设置

EDX-PCB是一款专门用于丈量大型PCB板、箱体以及晶圆的超大行程上照式X荧光测厚仪,搭配图纸输入系统以及外部图片输入,不但能为所欲为的快速运动被测样品的任何区域,在微区摄像头的资助下,也能极快的定位被测样品上极细小的测试点,完成快速编程与测试  。

应用领域
PCB板 
大型箱体 
晶圆

性能优势
1 超大开放式样品腔搭配全自动超细密大行程平台,XY移动规模:600mm×400mm  。
2 可外部输入被测板材的图片或搭配外摄全景摄像头  。
3 搭配多种差别规格尺寸的准直器,可对应差别的测试场景  。
4 高达140mm的Z轴移动规模配合可变焦补正系统,可应对种种凹槽异型件  。
5 配备70mm?超大探测窗口,相比通例探测器,不但区分率更高,计数率也显著增强,能为超小测试点提供更稳固的测试效果  。

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