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镀层测厚

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X射线荧光镀层测厚仪

型号:EDX-T30
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产品说明、手艺参数及设置

EDX-T30是pg网站麻将胡了仪器股份有限公司集30多年X荧光膜厚丈量手艺,研发的一款全新上照式X射线荧光剖析仪,该款仪器设置嵌入集成式多准直孔、滤光片自动切换装置和双摄像头,不但能展现测试部位的细节,也能泛起出高清广角视野;自动化的X/Y/Z轴的三维移动,实现对平面、高低、拐角、弧面等种种形态的样品举行快速对焦精准剖析。能更好地知足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。

应用领域
剖析超薄镀层,如镀层≤0.01um的Au,Pd,Rh,Pt等镀层;
丈量超小样品,直径≤0.1mm
印刷线路板上RoHS要求的痕量剖析
合金质料的因素剖析以及电镀液剖析
丈量电子工业或半导体工业中的功效性镀层

设计亮点
全新上照式设计,可顺应更多异型细小样品的测试�?杀浣垢呔阆裢�,搭配距离补正系统,泛起全高清广角视野,更好地知足细小产品、台阶、深槽、沉孔样品的测试需求。自力的高精度伺服电机扩大XY平台移动规模,可多点编程、网格编程、矩阵编程,自动完成客户多个产品及多个测试点的一连丈量,大大提高测样效率。自带数据校正系统,包管丈量数据的稳固性。

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